动态全能电容

一、复合开关作为智能电容的投切开关，历经十几年的发展，却要走到了末路。现有的复合开关故障率居高不下，原因方方面面，其中原理的不完善首当其冲。

1、 复合开关电子器件产品，对重燃高电压承受不了，损坏是必然。

2、 不能适应电容器的频繁投切，却用在变化负载频繁投切的现场。

3、 过零电路技术粗糙，有的根本不过零，使可控硅迅速烧毁。

4、 谐波会使电容器运行电流被放大数倍，复合开关没有保护措施，造成开关爆炸。

5、 把复合开关过零电路的可控硅拆掉，直接磁保持继电器投切，大概率损坏是必然。

二、智能电容器集成了断路器、复合开关和保护等功能，便于组装柜体。

现有智能电容故障率居高不下，使该类产品成为 劣质产品 的代名词，主要原因为：

1、 每个器件都要保证质量，一个损坏，成套报废。

2、 智能电容内的投切开关从理论到技术，都没有达标，复合开关质量低劣。

3、 现场应用无使用限制，比如智能电容应该90秒后二次投入，却用在了变化负载的现场，快速投切，几个月就坏掉了。

4、 控制器没有发挥联动保护的作用，功能简单，起不到控制兼保护的作用。

5、 投切开关的质量，决定了整套智能电容的运行寿命。

三、动态全能电容，首先把复合开关技术升级到一个新的层次，成为动态复合开关，然后采用动态复合开关配套电容器，形成动态智能电容。采用动态复合开关组装的动态智能电容，真正智能化，双CPU综合保护及动态放电技术集成化，确保各种环境下应用，适应1秒频繁投切。